Микроскоп РЭМ-106
Описание
Растровый электронный микроскоп РЭМ-106 является исследовательским измерительным прибором.
Назначение
Использование микроскопа позволяет выполнять исследования в различных научно-промышленных областях, в том числе:
- материаловедческих,
- нанотехнологических,
- физических,
- химических,
- геологических,
- микроэлектронных,
- биологических,
- медицинских и т. п.
В процессе исследований обеспечивается определение линейных размеров объектов в субмикронном диапазоне и массового содержания в них отдельных элементов.
По требованию заказчика микроскоп может быть укомплектован:
- камерой низкого давления,
- ЭДС.
Устройство и работа
Конструкция микроскопа обеспечивает:
- высокую скорость и точность определения линейных размеров,
- реализацию рентгеновского микроанализа, обеспечивающего количественное определение элементарного состава объекта,
- получение высококачественных изображений объектов, обладающих электропроводящими и диэлектрическими свойствами, по электронно-оптической технологии без проведения специальных подготовительных мероприятий (применяются режимы отраженных электронов (ОЭ) и вторичных электронов (ВЭ)),
- виброустойчивость,
- компьютеризированное управление механическими, вакуумными, оптико-электронными и энерго-дисперсионными системами,
- визуализацию, хранение и документирование результатов анализа,
- компьютеризированное определение и отображение параметров рабочего режима.
Также в микроскопе реализована калибровка и поверка с помощью комплекта тестовых образцов:
- оптико-электронного увеличения,
- метрологических параметров,
- разрешения в режимах ВЭ/ОЭ,
- микроаналитической системы.
В конструкции микроскопа имеется:
- вакуумный модуль, функционирующий в высоковакуумном и низковакуумном режиме,
- оптико-электронный модуль, обладающий системой защиты от электромагнитных воздействий,
- линза объектива, оснащенная разделительными диафрагмами.
Характеристики
Изделие (название Укрросприбор) |
Электронный микроскоп РЭМ-106 |
Разрешение изделия |
4 нм (режим ВЭ) 6 нм (режим ОЭ) |
Размер изображения |
(1280х960) пикс. |
Регулировочный интервал по давлению в камере |
(1÷270) Па |
Интервал ускоряющих напряжений |
(0,5÷30) кВ |
Интервал регулировки по увеличению |
15х÷300000х |
Верхний предел по размеру объекта |
5 см |
Интервал перемещения объекта по осям X и Y |
±2 см 5 мм |
Интервал перемещения объекта по оси Z |
50 мм |
Интервал наклона объекта |
(-20÷+60)° |
Интервал поворота объекта |
360° |
Длительность замены объекта |
300 секунд |
Измерительный интервал по линейным размерам |
(0,2÷5000) мкм |
Измерительная погрешность по линейным размерам объекта |
±40 нм в интервале (0,2÷0,8) мкм ±4 нм в интервале (0,8÷5000) мкм |
Анализируемые элементы |
₅B÷₉₂U (режим ВЭ) ₁₂Mg÷₉₂U (режим ОЭ) |
Разрешение ЭДС |
139 эВ |
Измерительная погрешность |
(±4÷±50)% |
Питающее однофазное (50/60Гц) напряжение |
220В |
Мощность потребления электроэнергии |
2,5 кВА |
Размер микроскопа |
1 м 5 см х 1м 85 см х 2 м 10 см |
Масса комплектации |
685 кг |